Vor Ort
Merkzettel Warenkorb
Produktbild: Advances in X-Ray Analysis
Band 32 - 12%

Advances in X-Ray Analysis Volume 32

Aus der Reihe Advances in X-Ray Analysis
12% sparen

192,99 € UVP 219,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

18.06.2013

Abbildungen

XXVI, 682 p.

Herausgeber

Charles S. Barrett + weitere

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

682

Maße (L/B/H)

25,4/17,8/3,8 cm

Gewicht

1308 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 1989

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4757-9112-9

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

18.06.2013

Abbildungen

XXVI, 682 p.

Herausgeber

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

682

Maße (L/B/H)

25,4/17,8/3,8 cm

Gewicht

1308 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 1989

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4757-9112-9

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

Email: GPSR Kontakt

Noch keine Bewertungen vorhanden

Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel

Helfen Sie anderen Kundinnen und Kunden durch Ihre Meinung.

Kundinnen und Kunden meinen

Bewertungen (0)
  • Produktbild: Advances in X-Ray Analysis
  • I. High Brilliance Sources/Applications.- II. On-Line X-Ray Analysis.- III. Xrf Mathematical Models and Quantitation.- IV. Techniques And XRF Instrumentation.- V. XRF Applications.- VI. Analysis of Thin Films by XRD and XRF.- VII. X-Ray Stress Analysis.- VIII. Applications of Digitized XRD Patterns.- IX. Qualitative and Quantitative Phase Analysis Diffraction Applications.- X. X-Ray Tomography, Imaging, and Topography.- Author Index.