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Band 35

Advances in X-Ray Analysis Volume 35B

49,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei


Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

21.11.2012

Abbildungen

IV, 641 p.

Herausgeber

C.S. Barrett + weitere

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

641

Maße (L/B/H)

24,4/17/3,5 cm

Gewicht

1100 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 1992

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4613-6532-7

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Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

21.11.2012

Abbildungen

IV, 641 p.

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Springer Us

Seitenzahl

641

Maße (L/B/H)

24,4/17/3,5 cm

Gewicht

1100 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 1992

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4613-6532-7

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

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  • Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrumentation, Techniques, and Reference Materials. Stress Determination by Diffraction Methods. XRD Profile Fitting, Crystallite Size and Strain Determination. XRD Applications: Detection Limits, Superconductors, Organics, Minerals. Mathematical Methods in XRay Spectrometry (XRS). Thin Film and Surface Characterization by XRS and XPS. Total Reflection XRS. XRS Techniques and Instrumentation. XRS Applications. XRay Imaging and Tomography. 161 articles. Index.