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Produktbild: Advances in X-Ray Analysis

Advances in X-Ray Analysis Volume 33

49,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

02.06.2012

Herausgeber

Charles S. Barrett + weitere

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

704

Maße (L/B/H)

24,4/15,7/3,9 cm

Gewicht

1140 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st edition 1990

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4613-9998-8

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

02.06.2012

Herausgeber

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

704

Maße (L/B/H)

24,4/15,7/3,9 cm

Gewicht

1140 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st edition 1990

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4613-9998-8

Herstelleradresse

Springer-Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

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  • Produktbild: Advances in X-Ray Analysis
  • I. Characterization of Epitaxial Thin Films and Crystal Defects by X-Ray Diffraction.- II. XRD Characterization of Polycrystalline Thin Films.- III. X-Ray Spectrometric Characterization of Thin Films.- IV. Analysis of Digital Diffraction Data Including Rietveld.- V. X-Ray Stress Analysis.- VI. Determination of Crystallite Size and Strain.- VII. Phase Identification, Structural and Quantitative Analysis by Diffraction.- VIII. X-Ray Spectrometry Data Analysis.- IX. XRF Instrumentation.- X. XRF Techniques for Hazardous Wastes and Other Applications.- Author Index.