Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design
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Sprache:Englisch
131,99 €
inkl. gesetzl. MwSt.Beschreibung
Produktdetails
Format
Kopierschutz
Nein
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Nein
Text-to-Speech
Nein
Erscheinungsdatum
25.02.2025
Verlag
SpringerSeitenzahl
167 (Printausgabe)
Dateigröße
9175 KB
Auflage
Second Edition 2025
Sprache
Englisch
EAN
9783031800238
The book provides a comprehensive overview of electromigration and its effects on the reliability of electronic circuits. This second edition has been updated to introduce recent advancements in the understanding of the physical process of electromigration, which gives the reader the knowledge for adopting appropriate counter measures. A comprehensive set of options is presented for modifying the present IC design methodology to prevent electromigration. Finally, the authors show how specific effects can be exploited in present and future technologies to reduce electromigration's negative impact on circuit reliability.
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