Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design
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Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
14.12.2018
Abbildungen
XIII, 99 illus., 95 illus. in color., schwarz-weiss Illustrationen, farbige Illustrationen
Verlag
SpringerSeitenzahl
159
Maße (L/B/H)
23,5/15,5/1 cm
Auflage
1. Auflage
Sprache
Englisch
ISBN
978-3-030-08811-8
The book provides a comprehensive overview of electromigration and its effects on the reliability of electronic circuits. It introduces the physical process of electromigration, which gives the reader the requisite understanding and knowledge for adopting appropriate counter measures. A comprehensive set of options is presented for modifying the present IC design methodology to prevent electromigration. Finally, the authors show how specific effects can be exploited in present and future technologies to reduce electromigration’s negative impact on circuit reliability.
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