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Advances in Imaging and Electron Physics

168,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

26.08.2022

Herausgeber

Martin Hÿtch + weitere

Verlag

Elsevier Science & Technology

Seitenzahl

266

Maße (L/B/H)

22,9/15,2/1,6 cm

Gewicht

527 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-323-98863-6

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Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

26.08.2022

Herausgeber

Verlag

Elsevier Science & Technology

Seitenzahl

266

Maße (L/B/H)

22,9/15,2/1,6 cm

Gewicht

527 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-323-98863-6

EU-Ansprechpartner

Zeitfracht Medien GmbH
Ferdinand-Jühlke-Straße 7|99095|Erfurt|DE
produktsicherheit@zeitfracht.de

Herstelleradresse

Elsevier Science & Technology
125 London Wall|EC2Y 5AS|London|GB
tradeorders@elsevier.com

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  • Preface
    Martin Hÿtch and Peter W. Hawkes
    1. Measuring elastic strains and orientation gradients by scanning electron microscopy: Conventional and emerging methods
    Clément Ernould, Benoît Beausir, Jean-Jacques Fundenberger, Vincent Taupin and Emmanuel Bouzy
    2. Development of a global homography-based approach for high-angular resolution in the SEM
    Clément Ernould, Benoît Beausir, Jean-Jacques Fundenberger, Vincent Taupin and Emmanuel Bouzy
    3. Implementing the homography-based global approach
    Clément Ernould, Benoît Beausir, Jean-Jacques Fundenberger, Vincent Taupin and Emmanuel Bouzy
    4. Numerical validation and influence of optical distorsions on accuracy
    Clément Ernould, Benoît Beausir, Jean-Jacques Fundenberger, Vincent Taupin and Emmanuel Bouzy
    5. Applications of the method
    Clément Ernould, Benoît Beausir, Jean-Jacques Fundenberger,Vincent Taupin and Emmanuel Bouzy
    6. Spin wave physics: The nonlinear spin wave-electromagnetic interaction and implications for high frequency devices
    Clifford M. Krowne