KI-Beratung Beta
Vor Ort
Merkzettel Warenkorb
  • Produktbild: Advances in Imaging and Electron Physics
  • Produktbild: Advances in Imaging and Electron Physics
Band 223

Advances in Imaging and Electron Physics

Aus der Reihe Advances in Imaging and Electron Physics

168,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 224 highlights new advances in the field, with this new volume presenting interesting chapters on Measuring elastic deformation and orientation gradients by scanning electron microscopy - conventional, new and emerging methods, Development of an alternative...

Beschreibung

Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 224 highlights new advances in the field, with this new volume presenting interesting chapters on Measuring elastic deformation and orientation gradients by scanning electron microscopy - conventional, new and emerging methods, Development of an alternative global method with high angular resolution, Implementing the new global method, Numerical validation of the method and influence of optical distortions, and Applications of the method.

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe
Erscheinungsdatum

26.08.2022
Herausgeber Martin Hÿtch + weitere
Verlag Elsevier Science & Technology

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe
Erscheinungsdatum

26.08.2022
Herausgeber
Verlag Elsevier Science & Technology
Seitenzahl

266
Maße (L/B/H)

22,9/15,2/1,6 cm
Gewicht

527 g
Sprache

Englisch
ISBN

978-0-323-98863-6
EU-Ansprechpartner

Elsevier B.V.
Radarweg 29
1043 NX Amsterdam
NL
productsafety@elsevier.com
Herstelleradresse

Elsevier Science & Technology
London Wall 125
EC2Y 5AS London
GB
tradeorders@elsevier.com

Noch keine Bewertungen vorhanden

Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel

Helfen Sie anderen Kundinnen und Kunden durch Ihre Meinung.

Kundinnen und Kunden meinen

Bewertungen (0)
Die Leseprobe wird geladen.
  • Produktbild: Advances in Imaging and Electron Physics
  • Produktbild: Advances in Imaging and Electron Physics

  • Preface
    Martin Hÿtch and Peter W. Hawkes
    1. Measuring elastic strains and orientation gradients by scanning electron microscopy: Conventional and emerging methods
    Clément Ernould, Benoît Beausir, Jean-Jacques Fundenberger, Vincent Taupin and Emmanuel Bouzy
    2. Development of a global homography-based approach for high-angular resolution in the SEM
    Clément Ernould, Benoît Beausir, Jean-Jacques Fundenberger, Vincent Taupin and Emmanuel Bouzy
    3. Implementing the homography-based global approach
    Clément Ernould, Benoît Beausir, Jean-Jacques Fundenberger, Vincent Taupin and Emmanuel Bouzy
    4. Numerical validation and influence of optical distorsions on accuracy
    Clément Ernould, Benoît Beausir, Jean-Jacques Fundenberger, Vincent Taupin and Emmanuel Bouzy
    5. Applications of the method
    Clément Ernould, Benoît Beausir, Jean-Jacques Fundenberger,Vincent Taupin and Emmanuel Bouzy
    6. Spin wave physics: The nonlinear spin wave-electromagnetic interaction and implications for high frequency devices
    Clifford M. Krowne