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Advances in X-Ray Analysis Volume 35b

112,99 €

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Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe
Erscheinungsdatum

01.10.1992
Abbildungen

65 SW-Abb.
Herausgeber John V. Gilfrich + weitere

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe
Erscheinungsdatum

01.10.1992
Abbildungen

65 SW-Abb.
Herausgeber
Verlag Springer
Seitenzahl

648
Maße (L/B/H)

25/17,5/4,1 cm
Gewicht

1224 g
Sprache

Englisch
ISBN

978-0-306-44249-0
Herstelleradresse

Libri GmbH
Europaallee 1
36244 Bad Hersfeld
DE

Email: gpsr@libri.de

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  • Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrumentation, Techniques, and Reference Materials. Stress Determination by Diffraction Methods. XRD Profile Fitting, Crystallite Size and Strain Determination. XRD Applications: Detection Limits, Superconductors, Organics, Minerals. Mathematical Methods in XRay Spectrometry (XRS). Thin Film and Surface Characterization by XRS and XPS. Total Reflection XRS. XRS Techniques and Instrumentation. XRS Applications. XRay Imaging and Tomography. 161 articles. Index.