Vor Ort
Merkzettel Warenkorb

Gutscheinbedingungen

**Gültig bis 17.08.2026 auf Schreibwaren & Office-Artikel online auf thalia.at, in der Thalia App und in teilnehmenden Thalia Buchhandlungen in Österreich mit Schulsortiment. In den Buchhandlungen nur gültig auf lagernde Ware. Einzelne Artikel können ausgeschlossen sein. Ausgenommen sind preisgebundene Artikel. Pro Einkauf einmal einlösbar. Nur gültig gegen Vorlage oder im Onlineshop hinterlegter Bonuscard. Infos zur Einlösung in der Buchhandlung sind auf der Bonuscard-Vorteilspreisseite zu finden. Click & Collect nur bei Onlinevorabzahlung möglich. Keine Einlösung bei Scan & Go-Bezahlung. Keine Barauszahlung. Nicht kombinierbar mit anderen Aktionen und Gutscheinen. Gutschein wird auf max. 500€ Bestellwert angerechnet. Nicht gültig für Geschenkkarten, Versandkosten und Services.
Produktbild: High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability
- 11%

High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability

11% sparen

99,99 € UVP 113,07 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

20.10.2014

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

193

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,2 cm

Gewicht

330 g

Auflage

2012

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4899-8847-8

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

20.10.2014

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

193

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,2 cm

Gewicht

330 g

Auflage

2012

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4899-8847-8

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

Email: GPSR Kontakt

Noch keine Bewertungen vorhanden

Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel

Helfen Sie anderen Kundinnen und Kunden durch Ihre Meinung.

Kundinnen und Kunden meinen

Bewertungen (0)
  • Produktbild: High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability
  • Part I: Preliminaries and Previous Work.- Circuits and Testing.- Boolean Satisfiability.- ATPG Based on Boolean Satisfiability.- Part II: New SAT Techniques and their Application in ATPG.- Dynamic Clause Activation.- Circuit-based Dynamic Learning.- Part III: High Quality Delay Test Generation.- High Quality ATPG for Transition Faults.- Path Delay Fault Model.- Summary and Outlook.