Produktbild: High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability
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High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability

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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

31.01.2012

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

193

Maße (L/B/H)

24,1/16/1,5 cm

Gewicht

488 g

Auflage

2012

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4419-9975-7

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Erscheinungsdatum

31.01.2012

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

193

Maße (L/B/H)

24,1/16/1,5 cm

Gewicht

488 g

Auflage

2012

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4419-9975-7

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

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  • Produktbild: High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability
  • Part I: Preliminaries and Previous Work.- Circuits and Testing.- Boolean Satisfiability.- ATPG Based on Boolean Satisfiability.- Part II: New SAT Techniques and their Application in ATPG.- Dynamic Clause Activation.- Circuit-based Dynamic Learning.- Part III: High Quality Delay Test Generation.- High Quality ATPG for Transition Faults.- Path Delay Fault Model.- Summary and Outlook.