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  • Produktbild: A Designer’s Guide to Built-In Self-Test
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Band 19 - 13%

A Designer’s Guide to Built-In Self-Test

Aus der Reihe Frontiers in Electronic Testing
13% sparen

189,99 € UVP 219,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

18.03.2013

Abbildungen

XX, 320 p.

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

320

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,9 cm

Gewicht

522 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 2002

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4757-7626-3

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Taschenbuch

Erscheinungsdatum

18.03.2013

Abbildungen

XX, 320 p.

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Seitenzahl

320

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,9 cm

Gewicht

522 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 2002

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4757-7626-3

Herstelleradresse

Springer-Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

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  • An Overview of BIST.- Fault Models, Detection, and Simulation.- Design for Testability.- Test Pattern Generation.- Output Response Analysis.- Manufacturing and System-Level Use of BIST.- Built-In Logic Block Observer.- Pseudo-Exhaustive BIST.- Circular BIST.- Scan-Based BIST.- Non-Intrusive BIST.- BIST for Regular Structures.- BIST for FPGAs and CPLDs.- Applying Digital BIST to Mixed-Signal Systems.- Merging BIST and Concurrent Fault Detection.