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Produktbild: A Designer’s Guide to Built-In Self-Test
Band 19 - 12%

A Designer’s Guide to Built-In Self-Test

Aus der Reihe Frontiers in Electronic Testing
12% sparen

192,99 € UVP 219,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

31.05.2002

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

320

Maße (L/B/H)

24,1/16/2,4 cm

Gewicht

658 g

Auflage

2002

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4020-7050-1

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Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

31.05.2002

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

320

Maße (L/B/H)

24,1/16/2,4 cm

Gewicht

658 g

Auflage

2002

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4020-7050-1

Herstelleradresse

Springer-Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

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  • Preface. About the Author. 1. An Overview of BIST. 2. Fault Models, Detection, and Simulation. 3. Design for Testability. 4. Test Pattern Generation. 5. Output Response Analysis. 6. Manufacturing and System-Level Use of BIST. 7. Built-In Logic Block Observer. 8. Pseudo-Exhaustive BIST. 9. Circular BIST. 10. Scan-Based BIST. 11. Non-Intrusive BIST. 12. BIST for Regular Structures. 13. BIST for FPGAs and CPLDs. 14. Applying Digital BIST of Mixed-Signal Systems. 15. Merging BIST and Concurrent Fault Detection. Acronyms. Bibliography. Index.