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Produktbild: A Designer’s Guide to Built-In Self-Test
Band 19 - 12%

A Designer’s Guide to Built-In Self-Test

Aus der Reihe Frontiers in Electronic Testing
12% sparen

192,99 € UVP 219,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

31.05.2002

Abbildungen

XX, 320 p.

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

320

Maße (L/B/H)

24,1/16/2,4 cm

Gewicht

630 g

Auflage

2002

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4020-7050-1

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Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

31.05.2002

Abbildungen

XX, 320 p.

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

320

Maße (L/B/H)

24,1/16/2,4 cm

Gewicht

630 g

Auflage

2002

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4020-7050-1

Herstelleradresse

Springer-Verlag GmbH
Europaplatz 3
69115 Heidelberg
DE

Email: ProductSafety@springernature.com

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  • An Overview of BIST.- Fault Models, Detection, and Simulation.- Design for Testability.- Test Pattern Generation.- Output Response Analysis.- Manufacturing and System-Level Use of BIST.- Built-In Logic Block Observer.- Pseudo-Exhaustive BIST.- Circular BIST.- Scan-Based BIST.- Non-Intrusive BIST.- BIST for Regular Structures.- BIST for FPGAs and CPLDs.- Applying Digital BIST to Mixed-Signal Systems.- Merging BIST and Concurrent Fault Detection.