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Produktbild: Radiation Effects on Embedded Systems

Radiation Effects on Embedded Systems

153,99 €

inkl. gesetzl. MwSt.

Beschreibung

Produktdetails

Format

PDF

Kopierschutz

Nein

Family Sharing

Nein

Text-to-Speech

Nein

Erscheinungsdatum

19.06.2007

Herausgeber

Raoul Velazco + weitere

Verlag

Springer Netherlands

Seitenzahl

269 (Printausgabe)

Dateigröße

45019 KB

Sprache

Englisch

EAN

9781402056468

Beschreibung

Produktdetails

Format

PDF

eBooks im PDF-Format haben eine festgelegte Seitengröße und eignen sich daher nur bedingt zum Lesen auf einem tolino eReader oder Smartphone. Für den vollen Lesegenuss empfehlen wir Ihnen bei PDF-eBooks die Verwendung eines Tablets oder Computers.

Kopierschutz

Nein

Dieses eBook können Sie uneingeschränkt auf allen Geräten der tolino Familie, allen sonstigen eReadern und am PC lesen. Das eBook ist nicht kopiergeschützt und kann ein personalisiertes Wasserzeichen enthalten. Weitere Hinweise zum Lesen von eBooks mit einem personalisierten Wasserzeichen finden Sie unter Hilfe/Downloads.

Family Sharing

Nein

Mit Family Sharing können Sie eBooks innerhalb Ihrer Familie (max. sechs Mitglieder im gleichen Haushalt) teilen. Sie entscheiden selbst, welches Buch Sie mit welchem Familienmitglied teilen möchten. Auch das parallele Lesen durch verschiedene Familienmitglieder ist durch Family Sharing möglich. Um eBooks zu teilen oder geteilt zu bekommen, muss jedes Familienmitglied ein Konto bei Thalia oder einem anderen tolino-Buchhändler haben. Weitere Informationen finden Sie unter Hilfe/Family-Sharing.

Text-to-Speech

Nein

Bedeutet Ihnen Stimme mehr als Text? Mit der Funktion Text-to-Speech können Sie sich im tolino webReader und in der aktuellen Thalia – Lesen & Hören App das eBook vorlesen lassen. Weitere Informationen finden Sie unter Hilfe/Text-to-Speech.

Barrierefreiheit
  • keine Information zur Barrierefreiheit bekannt

Erscheinungsdatum

19.06.2007

Herausgeber

Verlag

Springer Netherlands

Seitenzahl

269 (Printausgabe)

Dateigröße

45019 KB

Sprache

Englisch

EAN

9781402056468

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  • 1- Space Radiation Environment, J.-C. Boudenot (THALES) 2- Radiation Effects in Microelectronics, R. Schrimpf (Vanderbilt Univ. ) 3- In-Flight Anomalies on Electronic Devices, R. Ecoffet (CNES) 4- Multi-Level Fault Effects Evaluation, L. Anghel (TIMA), M. Rebaudengo, M. Sonza Reorda, M. Violante (POLI Torino) 5- Effects of Radiation on Analog & Mixed-Signal Circuits, M. Lubaszewski, T. Balen, E. Schuler, L.Carro (UFRGS), J.L. Huertas (IMSE-CNM) 6- Fundamentals of the Pulsed Laser Technique for Single-Event Upset Testing , P. Fouillat, V. Pouget (IXL), D. McMorrow (NRL). F. Darracq (IXL), S. Buchner (QSS), D. Lewis (IXL) 7- Design Hardening Methodologies for ASICs , F. Faccio (CERN) 8- Fault Tolerance in Programmable Circuits, F. Kastensmidt (UFRGS) & R. Reis (UFRGS) 9- Automatic Tools for Design Hardening, C. Lopez-Ongill, L. Entrena, M. Gracia-Valderas, M. Portela-Garcia (Univ. Carlos III) 10- Test Facilities for SEE and Dose Testing, S. Duzellier (ONERA) and G. Berger (UCL) 11- Error Rate Prediction of Digital Architectures: Test Methodology and Tools, R. Velazco, F, Faure (TIMA) 12- Using the SEEM Software for Laser SET Testing and Analysis, V. Pouget, P. Fouillat, D. Lewis (IXL)