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Radiation Effects on Embedded Systems

144,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei


Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

19.10.2010

Abbildungen

VIII, 269 p.

Herausgeber

Raoul Velazco + weitere

Verlag

Springer Netherland

Seitenzahl

269

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,6 cm

Gewicht

429 g

Auflage

1. Auflage

Sprache

Englisch

ISBN

978-90-481-7417-1

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Taschenbuch

Erscheinungsdatum

19.10.2010

Abbildungen

VIII, 269 p.

Herausgeber

Verlag

Springer Netherland

Seitenzahl

269

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,6 cm

Gewicht

429 g

Auflage

1. Auflage

Sprache

Englisch

ISBN

978-90-481-7417-1

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

Email: ProductSafety@springernature.com

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  • Radiation Space Environment.- Radiation Effects in Microelectronics.- In-flight Anomalies on Electronic Devices.- Multi-level Fault Effects Evaluation.- Effects of Radiation on Analog and Mixed-Signal Circuits.- Fundamentals of the Pulsed Laser Technique for Single-Event Upset Testing.- Design Hardening Methodologies for ASICs.- Fault Tolerance in Programmable Circuits.- Automatic Tools for Design Hardening.- Test Facilities for SEE and Dose Testing.- Error Rate Prediction of Digital Architectures: Test Methodology and Tools.- Using the SEEM Software for Laser SET Testing and Analysis.