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  • Produktbild: Robust Computing with Nano-scale Devices
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Band 58 - 11%

Robust Computing with Nano-scale Devices Progresses and Challenges

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96,99 € UVP 109,99 €

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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

05.05.2012

Abbildungen

VIII, 180 p.

Herausgeber

Chao Huang

Verlag

Springer Netherland

Seitenzahl

180

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,1 cm

Gewicht

295 g

Auflage

1. Auflage

Sprache

Englisch

ISBN

978-94-007-3183-7

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Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

05.05.2012

Abbildungen

VIII, 180 p.

Herausgeber

Chao Huang

Verlag

Springer Netherland

Seitenzahl

180

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,1 cm

Gewicht

295 g

Auflage

1. Auflage

Sprache

Englisch

ISBN

978-94-007-3183-7

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

Email: ProductSafety@springernature.com

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  • Fault Tolerant Nanocomputing.- Transistor-Level Based Defect-Tolerance for Reliable Nanoelectronics.- Fault-Tolerant Design for Nanowire-Based Programmable Logic Arrays.- Built-In Self-Test and Defect Tolerance for Molecular Electronics-Based NanoFabrics.- The Prospect and Challenges of CNFET Based Circuits: A Physical Insight.- Computing with Nanowires: A Self Assembled Neuromorphic Architecture.- Computational Opportunities and CAD for Nanotechnologies.