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  • Produktbild: Robust Computing with Nano-scale Devices
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Band 58 - 12%

Robust Computing with Nano-scale Devices Progresses and Challenges

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95,99 € UVP 109,99 €

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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

26.03.2010

Abbildungen

VIII, 180 p.

Herausgeber

Chao Huang

Verlag

Springer Netherland

Seitenzahl

180

Maße (L/B/H)

24,3/16,4/2 cm

Gewicht

436 g

Auflage

2010 edition

Sprache

Englisch

ISBN

978-90-481-8539-9

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Erscheinungsdatum

26.03.2010

Abbildungen

VIII, 180 p.

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Chao Huang

Verlag

Springer Netherland

Seitenzahl

180

Maße (L/B/H)

24,3/16,4/2 cm

Gewicht

436 g

Auflage

2010 edition

Sprache

Englisch

ISBN

978-90-481-8539-9

Herstelleradresse

Libri GmbH
Europaallee 1
36244 Bad Hersfeld
DE

Email: gpsr@libri.de

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  • Fault Tolerant Nanocomputing.- Transistor-Level Based Defect-Tolerance for Reliable Nanoelectronics.- Fault-Tolerant Design for Nanowire-Based Programmable Logic Arrays.- Built-In Self-Test and Defect Tolerance for Molecular Electronics-Based NanoFabrics.- The Prospect and Challenges of CNFET Based Circuits: A Physical Insight.- Computing with Nanowires: A Self Assembled Neuromorphic Architecture.- Computational Opportunities and CAD for Nanotechnologies.