On-Line Testing for VLSI
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- Hardcover
- Taschenbuch ausgewählt
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Sprache:Englisch
95,99 €
UVP
109,99 €
inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
06.12.2010
Abbildungen
IV, 160 p.
Herausgeber
Michael Nicolaidis + weitereVerlag
Springer UsSeitenzahl
160
Maße (L/B/H)
25,4/17,8/1 cm
Gewicht
322 g
Auflage
Softcover reprint of hardcover 1st ed. 1998
Sprache
Englisch
ISBN
978-1-4419-5033-8
On-Line Testing for VLSI contains a selected set of articles that discuss many of the modern aspects of on-line testing as faced today. The contributions are largely derived from recent IEEE International On-Line Testing Workshops . Guest editors Michael Nicolaidis, Yervant Zorian and Dhiraj Pradhan organized the articles into six chapters. In the first chapter the editors introduce a large number of approaches with an expanded bibliography in which some references date back to the sixties.
On-Line Testing for VLSI is an edited volume of original research comprising invited contributions by leading researchers.
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