On-Line Testing for VLSI
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- Taschenbuch
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Sprache:Englisch
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inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsdatum
30.04.1998
Abbildungen
IV, 160 p.
Herausgeber
Michael Nicolaidis + weitereVerlag
Springer UsSeitenzahl
160
Maße (L/B/H)
26/18,3/1,4 cm
Gewicht
461 g
Auflage
Reprinted from THE JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, 12:1-2, 1998
Sprache
Englisch
ISBN
978-0-7923-8132-7
On-Line Testing for VLSI contains a selected set of articles that discuss many of the modern aspects of on-line testing as faced today. The contributions are largely derived from recent IEEE International On-Line Testing Workshops . Guest editors Michael Nicolaidis, Yervant Zorian and Dhiraj Pradhan organized the articles into six chapters. In the first chapter the editors introduce a large number of approaches with an expanded bibliography in which some references date back to the sixties.
On-Line Testing for VLSI is an edited volume of original research comprising invited contributions by leading researchers.
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