Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics 2009
179,99 €
inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsdatum
05.11.2009
Herausgeber
David G. Seiler + weitereVerlag
AIP PressSeitenzahl
320
Maße (L/B/H)
28/22,1/3 cm
Gewicht
1461 g
Auflage
1. 2010
Sprache
Englisch
ISBN
978-0-7354-0712-1
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