Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics 2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics
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UVP
151,64 €
inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Set mit diversen Artikeln
Erscheinungsdatum
17.10.2007
Herausgeber
David G. Seiler + weitereVerlag
AIP PressSeitenzahl
578
Maße (L/B/H)
28/22,2/4,1 cm
Gewicht
1586 g
Auflage
1. 2007
Sprache
Englisch
ISBN
978-0-7354-0441-0
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