Vor Ort
Merkzettel Warenkorb

Gutscheinbedingungen

**Gültig bis 28.07.2026 auf Spielzeug, Schreibwaren, Filme, Geschenke & Trends, Musik, tolino eReader & Zubehör, Hörbücher und Hörbuch-Downloads (außer Abo), nicht preisgebundene Bücher und Kalender in der Thalia App. Einzelne Artikel können ausgeschlossen sein. Aufgrund der Buchpreisbindung sind deutschsprachige Bücher und eBooks ausgenommen. Zusätzlich ausgenommen sind preisgebundene Artikel, Abos & Flatrates, eBooks, Games, Geschenkkarten/-boxen, Shelfies, Software, Zeitschriften sowie einzelne Artikel von tonies®. Pro Einkauf einmal einlösbar. Click & Collect nur bei Onlinevorabzahlung möglich. Keine Barauszahlung. Nicht kombinierbar mit anderen Aktionen und Gutscheinen. Gutschein wird auf max. 500€ Bestellwert angerechnet. Nicht gültig für Versandkosten und Services.
  • Produktbild: Sequential Logic Testing and Verification
  • Produktbild: Sequential Logic Testing and Verification
Band 163

Sequential Logic Testing and Verification

Aus der Reihe The Springer International Series in Engineering and Computer Science

189,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

30.11.1991

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

214

Maße (L/B/H)

24,1/16/1,8 cm

Gewicht

527 g

Auflage

Repr. d. Ausg. v. 1991

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-7923-9188-3

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

30.11.1991

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

214

Maße (L/B/H)

24,1/16/1,8 cm

Gewicht

527 g

Auflage

Repr. d. Ausg. v. 1991

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-7923-9188-3

Herstelleradresse

Libri GmbH
Europaallee 1
36244 Bad Hersfeld
DE

Email: GPSR Kontakt

Noch keine Bewertungen vorhanden

Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel

Helfen Sie anderen Kundinnen und Kunden durch Ihre Meinung.

Kundinnen und Kunden meinen

Bewertungen (0)
  • Produktbild: Sequential Logic Testing and Verification
  • Produktbild: Sequential Logic Testing and Verification
  • List of Figures.- List of Tables.- Preface.- Acknowledgements.- 1 Introduction.- 1.1 IC Design Systems.- 1.2 Implementation Verification.- 1.3 Testing.- 1.4 Synthesis For Testability.- 1.5 Outline.- 2 Sequential Test Generation.- 2.1 Preliminaries.- 2.2 Methods for Sequential Test Generation.- 2.2.1 Random Techniques.- 2.2.2 Deterministic Techniques.- 2.3 Test Generation Strategy.- 2.4 Cover Extraction and Combinational ATG.- 2.5 Justification.- 2.6 Initialization of Circuits.- 2.7 State Differentiation.- 2.8 Identification of Redundant Faults.- 2.9 Test Generation Results Using STEED.- 2.10 Conclusions.- 3 Test Generation Using RTL Descriptions.- 3.1 Preliminaries.- 3.2 Previous Work.- 3.3 Global Strategy for Test Generation.- 3.4 State Justification.- 3.5 Indexed Backtracking.- 3.6 Conflict Resolution.- 3.6.1 Assembling the equations.- 3.7 State Differentiation.- 3.8 Test Generation Results Using ELEKTRA.- 3.9 Conclusions.- 4 Sequential Synthesis for Testability.- 4.1 Preliminaries.- 4.1.1 Eliminating Sequential Redundancies.- 4.2 Previous Work.- 4.3 Theoretical Results.- 4.3.1 An Unconditional Testability Theorem.- 4.3.2 Logic Partitioning.- 4.4 The Synthesis and Test Strategy.- 4.5 Detection of Invalid States.- 4.6 Detection of Equivalent States.- 4.7 Experimental Results.- 4.8 Conclusions.- 5 Verification of Sequential Circuits.- 5.1 Preliminaries.- 5.2 Previous Work.- 5.3 Implicit STG Traversal.- 5.3.1 Incompletely-specified machines.- 5.4 Implicit STG Enumeration.- 5.4.1 Traversal versus enumeration.- 5.5 Experimental Results.- 5.6 Conclusions.- 6 Symbolic FSM Traversal Methods.- 6.1 Preliminaries.- 6.1.1 Binary Decision Diagrams.- 6.1.2 Sets and Characteristic Functions.- 6.2 Traversal by Recursive Range Computation.- 6.3 Traversal based on Transition Relations.- 6.3.1 Iterative Squaring.- 6.3.2 Detecting Equivalent States.- 6.4 Depth-First Geometric Chaining.- 6.4.1 An Autonomous Counter.- 6.4.2 A Loop Counter.- 6.5 A Mixed Traversal Algorithm.- 6.5.1 Introduction.- 6.5.2 k-Convergence and t-Periodicity.- 6.5.3 Traversing Cascaded Machines.- 6.5.4 Traversing Mutually Interacting Machines.- 6.5.5 Generalization to Multiple Submachines.- 6.5.6 Input-Selection-Based Traversal.- 6.6 Implementation of Algorithm.- 6.7 Experimental Results.- 6.8 Conclusions.- 7 Conclusions.- 7.1 Test Generation.- 7.2 Synthesis for Testability.- 7.3 Verification.- 7.4 Directions for Future Work.