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Band 39

Advances in X-Ray Analysis Volume 39

Aus der Reihe Advances in X-Ray Analysis

289,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

31.01.1998

Abbildungen

XVII, 908 p.

Herausgeber

John V. Gilfrich + weitere

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

908

Maße (L/B/H)

25,4/17,8/4,9 cm

Gewicht

1814 g

Auflage

1998 edition

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-306-45803-3

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

31.01.1998

Abbildungen

XVII, 908 p.

Herausgeber

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

908

Maße (L/B/H)

25,4/17,8/4,9 cm

Gewicht

1814 g

Auflage

1998 edition

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-306-45803-3

Herstelleradresse

Libri GmbH
Europaallee 1
36244 Bad Hersfeld
DE

Email: gpsr@libri.de

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  • Historical Reviews of X-Ray Science and Technology.- Conditioning of X-Ray Beams and Other Developments in X-Ray Instrumentation.- Stress and Strain Determination by Diffraction Methods, Peak Broadending Analysis.- Characterization of Polymers, Anorphous Materials and Organics by X-Ray Neutron Scattering.- Precision, Accuracy in Xrd, Phase Analysis.- Characterization of Thin Films by X-Ray Diffraction and Fluorescence.- Other Applications of X-Ray Diffractions Including High-Temperature and Non-Ambient.- Total Reflection Xrf and Trace Analysis.- Quantitative XRF Data Interpretation and Other Xrf Applications.- Author Index.