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Applied Scanning Probe Methods II Scanning Probe Microscopy Techniques

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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

21.02.2006

Abbildungen

XLIII, 420 p.

Herausgeber

Bharat Bhushan + weitere

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

420

Maße (L/B/H)

24,1/16/3,1 cm

Gewicht

863 g

Auflage

2006

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-540-26242-8

Beschreibung

Rezension

From the reviews:



"The editors have done a good job in making the various chapters quite readable and most of the chapters are well written on a level that will be accessible to most readers. … As is usually the case with Springer books, these volumes have been beautifully printed, illustrated, and nicely bound for long term durability." (Gary J. Long & Fernande Grandjean, Physicalia Magazine, Vol. 29 (4), 2007)

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Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

21.02.2006

Abbildungen

XLIII, 420 p.

Herausgeber

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

420

Maße (L/B/H)

24,1/16/3,1 cm

Gewicht

863 g

Auflage

2006

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-540-26242-8

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

Email: ProductSafety@springernature.com

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