Beschreibung
Produktdetails
Einband
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsdatum
12.08.2025
Abbildungen
VII, 77 illus., 70 illus. in color., farbige Illustrationen, schwarz-weiss Illustrationen
Herausgeber
Daniel Sando + weitereVerlag
Springer SingaporeSeitenzahl
186
Maße (L/B/H)
24,1/16/1,6 cm
Gewicht
444 g
Auflage
1. Auflage
Sprache
Englisch
ISBN
978-981-9659-44-9
This book acts as a handbook on the topic of x-ray scattering as applied to epitaxial complex oxide films, providing detailed information to collect the data, how to analyze the data and the practical sides of the experiments. The first chapter considers laboratory-based X-ray diffraction (XRD) methods: the indispensable X-ray characterization methods used for phase analysis, epitaxial relationship determination, advanced analytical and data fitting techniques, and grazing incidence diffraction. The subsequent chapters focus on advanced techniques that are typically performed at large-scale facilities such as synchrotrons: diffuse scattering and strain mapping, coherent X-ray methods, magnetic X-ray scattering and dichroism effects, and pump-probe techniques. In addition, detailed characterization methods for complex structures such as oxide superlattices, the measurement of oxygen octahedra rotations, and probing of domain arrangements are covered. The overarching aim of the book is to provide a tutorial-style approach to assist experimentalists actually carrying out their experiments and data analysis. (For instance, the nitty gritty techniques of alignment and experimental setup, along with common mistakes and pitfalls, are often not discussed in textbooks or instruction manuals.). The book is an invaluable tool for the wide range of researchers working globally on ‘oxide electronics,’ serves as a reference text for the many and varied techniques applied to such materials systems, and showcases new advanced methods in x-ray scattering.
Noch keine Bewertungen vorhanden
Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel
Helfen Sie anderen Kundinnen und Kunden durch Ihre Meinung.
Kurze Frage zu unserer Seite
Vielen Dank für Ihr Feedback
Wir nutzen Ihr Feedback, um unsere Produktseiten zu verbessern. Bitte haben Sie Verständnis, dass wir Ihnen keine Rückmeldung geben können. Falls Sie Kontakt mit uns aufnehmen möchten, können Sie sich aber gerne an unseren Kund*innenservice wenden.
zum Kundenservice