Theoretical evaluation of reflectance in AL/SiO2 thin films SPUTTERING deposited for optical coating applications
-
- Englisch ausgewählt
48,99 €
inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
18.04.2021
Verlag
Our Knowledge PublishingSeitenzahl
80
Maße (L/B/H)
22/15/0,6 cm
Gewicht
137 g
Sprache
Englisch
ISBN
978-620-3-62220-1
The improvement of the optical properties of a material, such as reflectance, involves the complex search for the optimal experimental parameters in the process of obtaining them. The use of computational software for the simulation of these thin film growth processes represents a substantial benefit due to the non dependence on a real system, as well as the possibility of exploring a wider range of physical quantities involved. In addition, there is a need in the automotive industry, Varroc Lighting Systems(c) has been given the task of improving the reflectance of aluminized headlights, so we carried out the development, using NASCAM® software, which uses the Monte Carlo kinetic method to develop a model of the physical system to be studied on a nanometric scale, this will allow us to analyze the influence of different magnitudes that can affect the reflectance of the material.
Noch keine Bewertungen vorhanden
Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel
Helfen Sie anderen Kundinnen und Kunden durch Ihre Meinung.
Kurze Frage zu unserer Seite
Vielen Dank für Ihr Feedback
Wir nutzen Ihr Feedback, um unsere Produktseiten zu verbessern. Bitte haben Sie Verständnis, dass wir Ihnen keine Rückmeldung geben können. Falls Sie Kontakt mit uns aufnehmen möchten, können Sie sich aber gerne an unseren Kund*innenservice wenden.
zum Kundenservice