Metrology and Diagnostic Techniques for Nanoelectronics
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Produktdetails
Format
ePUB
Kopierschutz
Ja
Family Sharing
Nein
Text-to-Speech
Ja
Erscheinungsdatum
27.03.2017
Herausgeber
Zhiyong Ma + weitereVerlag
Taylor & Francis eBooksSeitenzahl
1454 (Printausgabe)
Auflage
1. Auflage
Sprache
Englisch
EAN
9781351733946
Nanoelectronics is changing the way the world communicates, and is transforming our daily lives. Continued Moore's law scaling and miniaturization of low-power semiconductor chips with ever-increasing functionality have been relentlessly driving R&D of new devices, materials, and process capabilities to meet performance, power, and cost requirements. This book covers up-to-date advances in research and industry practices in nanometrology, critical for continuing technology scaling and product innovation. It holistically approaches the subject matter and addresses emerging and important topics in semiconductor R&D and manufacturing.
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