Advanced VLSI Design and Testability Issues
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Sprache:Englisch
216,99 €
inkl. gesetzl. MwSt.,
Produktdetails
Einband
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsdatum
19.08.2020
Abbildungen
schwarz-weiss Illustrationen, Tabellen, schwarz-weiss
Herausgeber
Suman Lata Tripathi + weitereVerlag
Taylor and FrancisSeitenzahl
380
Maße (L/B/H)
24/16,1/2,5 cm
Gewicht
734 g
Sprache
Englisch
ISBN
978-0-367-49282-3
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