Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability A Physics of Failure Approach
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Sprache:Englisch
79,99 €
inkl. gesetzl. MwSt.,
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
19.06.2019
Verlag
Taylor and FrancisSeitenzahl
336
Maße (L/B/H)
25,4/17,8/1,8 cm
Gewicht
634 g
Sprache
Englisch
ISBN
978-0-367-40097-2
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