Kristallstrukturanalyse durch Röntgenbeugung Spektroskopiekurs kompakt
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Sprache:Deutsch
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Produktdetails
Format
Kopierschutz
Nein
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Nein
Text-to-Speech
Nein
Erscheinungsdatum
17.04.2019
Verlag
Springer Fachmedien WiesbadenSeitenzahl
77 (Printausgabe)
Dateigröße
3232 KB
Sprache
Deutsch
EAN
9783658254391
Thomas Oeser bietet in diesem essential eine leicht verständliche Einführung in die Kristallstrukturanalyse durch Röntgenbeugung. Kurz und präzise, strukturiert und gut zu lesen vermittelt er die Grundlagen dieses Analyseverfahrens. Von den Methoden der Röntgenanalytik und den typischen Anwendungsbeispielen der Kristallstrukturanalyse führt der Autor zu einem detaillierten Verständnis der Einkristall-Röntgenstrukturanalyse. Er gibt dafür einen Überblick über Grundlagen zur charakteristischen Röntgenstrahlung, Netzebenen sowie dem reziproken Gitter und erläutert damit Strukturlösung und -verfeinerung. Ein Kapitel zu den Symmetrieeigenschaften und der Nomenklatur von Kristallsystemen sowie weiterführende Literatur runden das Buch ab.
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