RF Probe-Induced On-Wafer Measurement Errors in the Millimeter-Wave Frequency Range Dissertationsschrift
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47,30 €
inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
22.11.2018
Verlag
KIT Scientific PublishingSeitenzahl
214
Maße (L/B/H)
21/14,8/1,4 cm
Gewicht
317 g
Sprache
Englisch
ISBN
978-3-7315-0822-9
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