Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology XVI
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Sprache:Englisch
217,80 €
inkl. gesetzl. MwSt.Beschreibung
Produktdetails
Format
Kopierschutz
Nein
Family Sharing
Nein
Text-to-Speech
Nein
Erscheinungsdatum
23.10.2015
Herausgeber
Peter PichlerVerlag
Trans Tech PublicationsSeitenzahl
500 (Printausgabe)
Dateigröße
118134 KB
Sprache
Englisch
EAN
9783035700831
Collection of selected, peer reviewed papers from the GADEST 2015: Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology, September 20-25, 2015, Bad Staffelstein, Germany.
The 7 1 papers are grouped as follows: Chapter 1: Growth of Mono- and Multi-Crystalline Silicon; Chapter 2: Passivation and Defect Studies in Solar Cells; Chapter 3: Intrinsic Point Defects and Dislocations in Silicon; Chapter 4: Light Elements in Silicon-Based Materials; Chapter 5: Properties and Gettering of Transition Metals in Silicon; Chapter 6: Radiation- and Impurity-Related Defect Studies in Silicon and Germanium; Chapter 7: Thermal Properties of Semiconductors; Chapter 8: Luminescence and Optical Properties of Semiconductors; Chapter 9: Nano-Sized Layers and Structures; Chapter 10: Wide-Bandgap Semiconductors; Chapter 11: Advanced Methods and Tools for Investigation of Semiconductor Materials
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