Advanced X-Ray Characterization Techniques
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Sprache:Englisch
217,80 €
inkl. gesetzl. MwSt.Beschreibung
Produktdetails
Format
Kopierschutz
Nein
Family Sharing
Nein
Text-to-Speech
Nein
Erscheinungsdatum
13.12.2012
Herausgeber
Zainal Arifin Ahmad + weitereVerlag
Trans Tech PublicationsSeitenzahl
550 (Printausgabe)
Dateigröße
130615 KB
Sprache
Englisch
EAN
9783038139416
Volume is indexed by Thomson Reuters CPCI-S (WoS)
X-ray applications and techniques are gaining importance and are moving to the forefront of science. A powerful tool with many advantages, X-ray applications and techniques present a route for rapid, hassle-free, non-destructive, safe and accurate analysis. This book contains a compilation of papers, all related to X-ray techniques, which are applied in various areas of science and technology, namely in research and industry. This publication aims to showcase the current diversity and versatility of X-ray related techniques. With contributors from all around the world, this publication of compiled papers will relate a host of X-ray related techniques with aims and the eventual findings, all of which are presented in a short and concise manner. It is believed that this book will be a good scientific literature which provides clear and important information on X-ray related ventures.
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