VLSI Design and Test 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 – July 2, 2017, Revised Selected Papers
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- Taschenbuch ausgewählt
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Sprache:Englisch
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Verlag:Springer Singapore
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Auflage:1st ed. 2017
96,99 €
inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
22.12.2017
Abbildungen
XXI, 815 p. 486 illus.
Herausgeber
Brajesh Kumar Kaushik + weitereVerlag
Springer SingaporeSeitenzahl
815
Maße (L/B/H)
23,5/15,5/4,5 cm
Gewicht
1247 g
Auflage
1st ed. 2017
Sprache
Englisch
ISBN
978-981-10-7469-1
This book constitutes the refereed proceedings of the 21st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2017, held in Roorkee, India, in June/July 2017.
The 48 full papers presented together with 27 short papers were carefully reviewed and selected from 246 submissions. The papers were organized in topical sections named: digital design; analog/mixed signal; VLSI testing; devices and technology; VLSI architectures; emerging technologies and memory; system design; low power design and test; RF circuits; architecture and CAD; and design verification.
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