Produktbild: Rasterelektronenmikroskop (REM) Bruchflächenanalyse an Magnesiumdrähten zur Beweisführung von Spannungsrisskorrosion

Rasterelektronenmikroskop (REM) Bruchflächenanalyse an Magnesiumdrähten zur Beweisführung von Spannungsrisskorrosion

43,50 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei


Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

20.06.2017

Abbildungen

mit Farbabbildung

Verlag

GRIN

Seitenzahl

80

Maße (L/B/H)

21/14,8/0,6 cm

Gewicht

129 g

Auflage

1. Auflage

Sprache

Deutsch

ISBN

978-3-668-44555-0

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Taschenbuch

Erscheinungsdatum

20.06.2017

Abbildungen

mit Farbabbildung

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GRIN

Seitenzahl

80

Maße (L/B/H)

21/14,8/0,6 cm

Gewicht

129 g

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1. Auflage

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Deutsch

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978-3-668-44555-0

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