Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
-
- Taschenbuch ausgewählt
- eBook
-
Sprache:Englisch
159,99 €
inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
29.03.2017
Abbildungen
schwarz-weiss Illustrationen
Herausgeber
Goel Sandeep K. + weitereVerlag
Taylor and FrancisSeitenzahl
264
Maße (L/B/H)
23,4/15,6/1,4 cm
Gewicht
406 g
Sprache
Englisch
ISBN
978-1-138-07577-1
Advances in design methods and process technologies are leading to a continuous increase in the complexity of integrated circuits (ICs). However, the increased complexity and nanometer-size features of modern ICs make them susceptible to manufacturing defects, as well as performance and quality issues. This book covers common problems in areas such as process variations, power supply noise, crosstalk, resistive opens/bridges, and design-for-manufacturing (DfM)-related rule violations. The book also addresses testing for small-delay defects (SDDs), which can cause timing failures on both critical and non-critical paths in the circuit.
Noch keine Bewertungen vorhanden
Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel
Helfen Sie anderen Kundinnen und Kunden durch Ihre Meinung.
Kurze Frage zu unserer Seite
Vielen Dank für Ihr Feedback
Wir nutzen Ihr Feedback, um unsere Produktseiten zu verbessern. Bitte haben Sie Verständnis, dass wir Ihnen keine Rückmeldung geben können. Falls Sie Kontakt mit uns aufnehmen möchten, können Sie sich aber gerne an unseren Kund*innenservice wenden.
zum Kundenservice