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Produktbild: Microscopy Methods in Nanomaterials Characterization

Microscopy Methods in Nanomaterials Characterization Volume 1

208,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei


Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

23.05.2017

Herausgeber

Sabu Thomas + weitere

Verlag

Elsevier Science & Technology

Seitenzahl

432

Maße (L/B/H)

20/24,2/2,9 cm

Gewicht

450 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-323-46141-2

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Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

23.05.2017

Herausgeber

Verlag

Elsevier Science & Technology

Seitenzahl

432

Maße (L/B/H)

20/24,2/2,9 cm

Gewicht

450 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-323-46141-2

Herstelleradresse

Libri GmbH
Europaallee 1
36244 Bad Hersfeld
DE

Email: gpsr@libri.de

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  • Produktbild: Microscopy Methods in Nanomaterials Characterization
  • 1. Scanning Electron Microscopy, ESEM, and X-Ray Microanalysis
    2. Synthesis of Scanning Electron Microscopy Images of Nanostructures by High-Performance Monte Carlo Modeling
    3. Scanning electron microscopy under gaseous environment
    4. Transmission Electron Microscopy of Nanostructures
    5. Plasmonic and Non-Plasmonic Characterization of Nanomaterials
    6. Characterization of Materials, Nanomaterials, and Thin-Films by Nanoindentation
    7. Super Resolution Optical Microscopy
    8. X-ray Microanalysis and Electron Energy Loss Spectroscopy (EELS)
    9. Wide Angle X-Ray Diffraction (WXRD)
    10. Small Angle Neutron Scattering (SANS)
    11. Auger Electron Spectroscopy
    12. Energy Dispersive X-ray Spectroscopy Techniques for Nanomaterials