Vor Ort
Merkzettel Warenkorb
Produktbild: Counterfeit Integrated Circuits
- 11%

Counterfeit Integrated Circuits Detection and Avoidance

11% sparen

106,99 € UVP 120,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

06.10.2016

Abbildungen

XX, 269 p. 134 illus., 109 illus. in color.

Verlag

Springer

Seitenzahl

269

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,5 cm

Gewicht

500 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 2015

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-319-36485-8

Beschreibung

Rezension

“In this book, the authors present an
overall description of the physical and electrical techniques that are used in
the state of the art. Those techniques are proven to be useful in the practical
detection and avoidance of counterfeit ICs. … usable as a handbook for
engineers and experts in this field.” (Zheng Gong, computing Reviews, August,
2015)

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

06.10.2016

Abbildungen

XX, 269 p. 134 illus., 109 illus. in color.

Verlag

Springer

Seitenzahl

269

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,5 cm

Gewicht

500 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 2015

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-319-36485-8

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

Email: ProductSafety@springernature.com

Noch keine Bewertungen vorhanden

Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel

Helfen Sie anderen Kundinnen und Kunden durch Ihre Meinung.

Kundinnen und Kunden meinen

Bewertungen (0)
  • Produktbild: Counterfeit Integrated Circuits
  • Introduction.- Conterfeit Integrated Circuits.- Counterfeit Defects.- Physical Tests for Counterfeit Detection.- Electrical Tests for Counterfeit Detection.- Counterfeit Test Coverage: An Assessment of Current Counterfeit Detection Methods.- Advanced Detection: Physical Tests.- Advanced Detection: Electrical Tests.- Combating Die and IC Recycling.- Hardware IP Watermarking.- Prevention of Unlicensed and Rejected ICs from Untrusted Foundry and Assembly.- Chip ID.