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Produktbild: Dielectric Breakdown in Gigascale Electronics

Dielectric Breakdown in Gigascale Electronics Time Dependent Failure Mechanisms

Aus der Reihe SpringerBriefs in Materials

51,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

26.09.2016

Abbildungen

VIII, 105 p. 74 illus., 33 illus. in color.

Verlag

Springer

Seitenzahl

105

Maße (B/H)

15,5/23,5 cm

Gewicht

190 g

Auflage

1st ed. 2016

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-319-43218-2

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Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

26.09.2016

Abbildungen

VIII, 105 p. 74 illus., 33 illus. in color.

Verlag

Springer

Seitenzahl

105

Maße (B/H)

15,5/23,5 cm

Gewicht

190 g

Auflage

1st ed. 2016

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-319-43218-2

Herstelleradresse

Springer Nature Customer Service Center GmbH
Europaplatz 3
69115 Heidelberg
DE
ProductSafety@springernature.com

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  • Produktbild: Dielectric Breakdown in Gigascale Electronics
  • Introduction.- General Theories.- Measurement Tools and Test Structures.- Experimental Techniques.- Breakdown Experiments.- Kinetics of Charge Carrier Confinement in Thin Dielectrics.- Theory of Dielectric Breakdown in Nanoporous Thin Films.- Dielectric Breakdown in Copper Interconnects.- Reconsidering Conventional Models.