Physical Principles of Electron Microscopy An Introduction to TEM, SEM, and AEM
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Beschreibung
Produktdetails
Einband
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsdatum
07.07.2016
Abbildungen
XI, 124 illus., 15 illus. in color., schwarz-weiss Illustrationen, farbige Illustrationen
Verlag
SpringerSeitenzahl
196
Maße (L/B/H)
24,1/16/1,7 cm
Gewicht
483 g
Auflage
2nd edition 2016
Sprache
Englisch
ISBN
978-3-319-39876-1
Scanning and fixed-beam electron microscopes are an indispensable tool for both research and routine evaluation in the physical, biological and medical sciences, including specialized fields in materials science, nanotechnology and semiconductor processing. Physical Principles of Electron Microscopy, Second Edition , is ideal for students, researchers, and technologists who make use of electron microscopes buthave only a limited knowledge of physics and mathematics. Undergraduate students will understand how basic principles of physics are utilized in this important area of applied science, while university teachers and researchers will find a concise but authoritative teaching, supplemental, or reference text covering the basic principles and practice of microscopy.
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