The Physics of SiO2 and Its Interfaces Proceedings of the International Topical Conference on the Physics of SiO2 and Its Interfaces Held at the IBM Thomas J. Waston Research Center, Yorktown Heights, New York, March 22-24, 1978
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Sprache:Englisch
70,95 €
inkl. gesetzl. MwSt.Beschreibung
Produktdetails
Format
Kopierschutz
Nein
Family Sharing
Nein
Text-to-Speech
Nein
Erscheinungsdatum
17.09.2013
Herausgeber
Sokrates T. PantelidesVerlag
Elsevier Science & Techn.Seitenzahl
500 (Printausgabe)
Sprache
Englisch
EAN
9781483139005
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