VLSI Test Principles and Architectures Design for Testability
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Sprache:Englisch
98,99 €
inkl. gesetzl. MwSt.,
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
21.07.2006
Verlag
ElsevierSeitenzahl
808
Sprache
Englisch
ISBN
978-1-4933-0086-0
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