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  • Produktbild: Reliability of Nanoscale Circuits and Systems
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Reliability of Nanoscale Circuits and Systems Methodologies and Circuit Architectures

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96,99 € UVP 109,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

11.10.2014

Abbildungen

XXVII, 195 p.

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

195

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,3 cm

Gewicht

347 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4899-8254-4

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Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

11.10.2014

Abbildungen

XXVII, 195 p.

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

195

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,3 cm

Gewicht

347 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4899-8254-4

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

Email: ProductSafety@springernature.com

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  • Introduction.- Reliability, Faults and Fault Models.- Nanotechnology and Nanodevices.- Fault-Tolerant Architectures and Approaches.- Reliability Evaluation Techniques.- Averaging Design Implementations.- Statistical Evaluation of Fault-Tolerance Using Proability Density Functions.- System Level Reliability Evaluation and Optimization.- Summary and Conclusions.- References.