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Produktbild: Helium Ion Microscopy

Helium Ion Microscopy Principles and Applications

Aus der Reihe SpringerBriefs in Materials

54,99 €

inkl. gesetzl. MwSt.

Beschreibung

Produktdetails

Format

PDF

Kopierschutz

Nein

Family Sharing

Nein

Text-to-Speech

Nein

Erscheinungsdatum

13.09.2013

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

64 (Printausgabe)

Dateigröße

2218 KB

Sprache

Englisch

EAN

9781461486602

Beschreibung

Rezension

From the reviews:

“Helium Ion Microscopy, Principles and Applications, is a compact volume of 64 pages, and is useful to anyone wishing fundamental knowledge on this topic. … There are many features of this book that make it a useful resource for both the beginning and advanced microscopist. … this book provides a novice researcher an initial resource to determine if this methodology is useful to their particular area and to determine what trade-offs are necessary.” (Michael T. Postek, Microscopy and Microanalysis, Vol. 20 (2), 2014)

Produktdetails

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PDF

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Barrierefreiheit
  • keine Information zur Barrierefreiheit bekannt

Erscheinungsdatum

13.09.2013

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

64 (Printausgabe)

Dateigröße

2218 KB

Sprache

Englisch

EAN

9781461486602

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Weitere Artikel finden Sie in
  • Produktbild: Helium Ion Microscopy
  • Chapter 1: Introduction to Helium Ion Microscopy
    Chapter 2: Microscopy with Ions  - A brief history
    Chapter 3: Operating the Helium Ion Microscope
    Chapter 4: Ion -Solid  Interactions  and Image Formation
    Chapter 5: Charging and  Damage
    Chapter 6: Microanalysis with the HIM
    Chapter 7: Ion Generated Damage
    Chapter 8: Working with other Ion beams
    Chapter 9: Patterning and Nanofabrication
    Conclusion
    Bibliography
    Appendix: iSE Yields,  and IONiSE  parameters for  He+ excitation  of Elements and Compounds
    Index