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  • Produktbild: Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization
  • Produktbild: Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization
Band 179 - 10%

Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization Atomic-Scale Structure Determination

Aus der Reihe Springer Tracts in Modern Physics
10% sparen

197,99 € UVP 219,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

03.10.2013

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

214

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,3 cm

Gewicht

361 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 2002

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-662-14637-8

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Taschenbuch

Erscheinungsdatum

03.10.2013

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

214

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,3 cm

Gewicht

361 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 2002

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-662-14637-8

Herstelleradresse

Springer-Verlag GmbH
Heidelberger Platz 3
14197 Berlin
Deutschland
Email: sdc-bookservice@springer.com
Url: www.springer.com
Telephone: +49 30 827870
Fax: +49 30 8214091

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  • Produktbild: Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization
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  • Structural Characterization of Crystalline and Non-crystalline Materials — A Brief Background of Current Requirements.- Experimental Determination of Partial and Environmental Structure Functions in Non-crystalline Systems — Fundamental Aspects.- Nature of Anomalous X-ray Scattering and Its Application to the Structural Analysis of Crystalline and Non-crystalline Systems.- Experimental Determination of the Anomalous Dispersion Factors of X-rays — Theoretical and Experimental Issues.- In-House Equipment and Synchrotron Radiation Facilities for Anomalous X-ray Scattering.- Selected Examples of Structural Determination for Crystalline Materials Using the AXS Method.- Selected Examples of Structural Determination for Non-crystalline Materials Using the AXS Method.- Anomalous Small-Angle X-ray Scattering.- Anomalous Grazing-Incidence X-ray Reflection.- Merits of Anomalous X-ray Scattering and Its Future Prospects.