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Band 148

X-Ray Scattering from Soft-Matter Thin Films Materials Science and Basic Research

Aus der Reihe Springer Tracts in Modern Physics

99,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

03.10.2013

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

198

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,2 cm

Gewicht

330 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 1999

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-662-14218-9

Beschreibung

Rezension

"The book is well referenced and clearly conveys materials systems and behavior that are amenable to characterization by thin-film scattering techniques. It should be an asset to any research group beginning, or currently involved in, the characterization of thin films by x-ray diffraction."

Physics Today, 2000/2

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Taschenbuch

Erscheinungsdatum

03.10.2013

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

198

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,2 cm

Gewicht

330 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 1999

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-662-14218-9

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

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  • Reflectivity of x-rays from surfaces.- Reflectivity experiments.- Advanced analysis techniques.- Statistical description of interfaces.- Off-specular scattering.- X-ray scattering with coherent radiation.- Closing remarks.