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Optics of Corpuscles / Korpuskularoptik

Aus der Reihe Handbuch der Physik Encyclopedia of Physics

49,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

09.03.2012

Herausgeber

S. Flügge

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

702

Maße (L/B/H)

24,4/17/3,8 cm

Gewicht

1207 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 1956

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-642-45854-5

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Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

09.03.2012

Herausgeber

S. Flügge

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

702

Maße (L/B/H)

24,4/17/3,8 cm

Gewicht

1207 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 1956

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-642-45854-5

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

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  • Elektronen- und Ionenquellen.- A. Elektronenquellen.- I. Elektronenemission, Kathoden.- II. Strahlerzeugungssysteme.- B. Ionenquellen.- I. Ionenerzeugung und Ionenextraktion.- II. Güte von Ionenquellen.- III. Ionenquellen mit kalten Kathoden.- a) Kanalstrahl-Ionenquellen.- b) Hochfrequenz-Ionenque11en.- c) Penning-Ionenquellen.- IV. Ionenquellen mit Glühkathoden.- a) Bogenentladungs-Ionenquellen.- b) Elektronenstoßquellen.- c) Ionenquellen für Massentrenner.- V. Verschiedene Typen.- Zusammenfassende Literatur über Elektronenquellen.- Elektronen- und Ionenoptik.- I. Elektronen- und Ionenbewegungen als optisches Problem.- II. Berechnung von Ablenk- und Abbildungsfeldern.- III. Optische Abbildung in rotationssymmetrischen Feldern.- IV. Theorie der geometrischen Aberrationen.- V. Ablenkung von Elektronenstrahlbündeln in elektrischen und magnetischen Ablenksystemen.- VI. Elektronenoptische Systeme mit gekrümmter Hauptachse.- VII. Elektronische Abbildung auf Grund der Wellenmechanik.- VIII. Raumladungen.- Literatur.- Elektronenmikroskope.- I. Grundlagen.- a) Objektive.- b) Anordnung und Bestrahlung des Objekts.- c) Beobachtung des Endbildes.- II. Technische Formen.- a) Durchstrahlungsmikroskope.- b) Oberflächen abbildende Mikroskope.- c) Technische Anlagen.- III. Theoretische und experimentelle Grenzen.- a) Gerätbedingte Grenzen.- b) Objektbedingte Grenzen.- IV. Aussagen über das Objekt.- a) Gestalt und Kontrast.- b) Analyse durch Elektronenbeugung.- c) Geschwindigkeitsanalyse.- Bibliographie: A. Zusammenfassende Darstellung über Elektronenmikroskope.- B. Literaturverzeichnisse.- Massenspektroskopische Apparate.- I. Parabelspektrographen.- II. Richtungsfokussierende massenspektroskopische Apparate kleiner Auflösung (A < 1000).- III. Kombination von elektrischen und magnetischen Ablenkfeldern zu richtungs-, geschwindigkeits- und doppelfokussierenden Apparaten meist hoher Auflösung.- IV. Hochfrequenz-Massenspektrometer.- Literatur.- Beta-Ray Spectroscopes.- I. Introduction.- II. Fundamental principles of beta-ray spectroscopy.- III. Flat spectroscopes.- IV. Lens spectroscopes.- V. Comparison between different types.- VI. Electrostatic field spectroscopes.- VII. High precision beta and gamma-ray spectroscopy.- VIII. Experimental techniques.- IX. Beta-ray spectroscopic technique applied to gamma-ray spectroscopy.- X. Coincidence spectrometers.- Sachverzeichnis (Deutsch-Englisch).- Subject Index (English-German).