Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy
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Sprache:Englisch
98,99 €
inkl. gesetzl. MwSt.Beschreibung
Produktdetails
Format
Kopierschutz
Nein
Family Sharing
Nein
Text-to-Speech
Nein
Erscheinungsdatum
02.03.2012
Herausgeber
Thomas Vogt + weitereVerlag
Springer New YorkSeitenzahl
182 (Printausgabe)
Dateigröße
7047 KB
Sprache
Englisch
EAN
9781461421917
Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy presents the recent advances that have been made using mathematical methods to resolve problems in microscopy. With improvements in hardware-based aberration software significantly expanding the nanoscale imaging capabilities of scanning transmission electron microscopes (STEM), these mathematical models can replace some labor intensive procedures used to operate and maintain STEMs. This book, the first in its field since 1998, will also cover such relevant concepts as superresolution techniques, special denoising methods, application of mathematical/statistical learning theory, and compressed sensing.
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