Produktbild: Transition-Metal Defects in Silicon

Transition-Metal Defects in Silicon New Insights from Photoluminescence Studies of Highly Enriched 28Si

Aus der Reihe Springer Theses

99,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei


Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

19.03.2013

Abbildungen

XII, 97 p. 35 illus., 18 illus. in color.

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

97

Maße (L/B/H)

24,1/16/1,1 cm

Gewicht

342 g

Auflage

2013

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-642-35078-8

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Erscheinungsdatum

19.03.2013

Abbildungen

XII, 97 p. 35 illus., 18 illus. in color.

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

97

Maße (L/B/H)

24,1/16/1,1 cm

Gewicht

342 g

Auflage

2013

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-642-35078-8

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

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  • Introduction and Background.- History of the Observed Centres in Silicon.- Experimental Method.- Results.- Discussion and Conclusion.