Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
17.03.2012
Abbildungen
564 S.
Herausgeber
H. Bethge + weitereVerlag
Springer BerlinSeitenzahl
564
Maße (L/B/H)
24,4/17/3,1 cm
Gewicht
967 g
Auflage
Softcover reprint of the original 1st ed. 1982
Sprache
Deutsch
ISBN
978-3-642-93212-0
Die Elektronenmikroskopie als Methode zur direkten Abbildung submikroskopi scher Strukturen hat in den letzten Jahrzehnten auf nahezu allen Gebieten der naturwissenschaftlichen, technischen und medizinischen Forschung auBerordentlich an Bedeutung gewonnen. Im vorliegenden Buch wird iiber den Einsatz der Elek tronenmikroskopie in der Festkorperphysik lind in der Werkstofforschung be richtet. Im Hinblick darauf, daB die moderne Werkstofforschung ihre wesentlichen Grundlagen in der Festkorperphysik hat, wurde der Kurztitel "Elektronenmikro skopie in der Festkorperphysik" gewahlt. Das Buch ist in die beiden Teile "Elektronenmikroskopische Untersuchungs verfahren" und "Anwendungen in der Festkorperphysik" gegliedert. Im erst en Teil werden die Moglichkeiten und Grenzen der in der Festkorperphysik eingesetzten elektronenmikroskopischen Untersuchungsverfahren beschrieben, wobei die zu verlassige Interpretation elektronenmikroskopischer Aufnahmen (Bildentstehung, Bildauswertung) besondere Beachtung findet. Im Anwendungsteil des Buches sind - ohne Anspruch auf Vollstandigkeit zu erheben - diejenigen Gebiete der Fest korperphysik und Werkstofforschung erfaBt, in denen die Elektronenmikroskopie einen wesentlichen Beitrag leisten kann. Neben einigen besonderen Ergebnissen aus verschiedenen Laboratorien in aller Welt konnte bei der Auswahl der zu be handelnden Themen und Untersuchungsbeispiele weitgehend auf die im Institut der Autoren durchgefiihrten Arbeiten und daraus vorliegendem Bildmaterial zuriickgegriffen werden.
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