• Produktbild: Scanning Microscopy
  • Produktbild: Scanning Microscopy

Scanning Microscopy Symposium Proceedings

99,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei


Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

09.02.2012

Abbildungen

X, 207 p.

Herausgeber

Rainer Kassing

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

207

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,3 cm

Gewicht

347 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 1992

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-642-84812-4

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

09.02.2012

Abbildungen

X, 207 p.

Herausgeber

Rainer Kassing

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

207

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,3 cm

Gewicht

347 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 1992

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-642-84812-4

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

Email: ProductSafety@springernature.com

Noch keine Bewertungen vorhanden

Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel

Helfen Sie anderen Kundinnen und Kunden durch Ihre Meinung.

Kundinnen und Kunden meinen

Bewertungen (0)

  • Produktbild: Scanning Microscopy
  • Produktbild: Scanning Microscopy
  • Performance and Selection Criteria of Critical Components of STM and AFM.- Investigations on the SFM — Tip to Substrate Interaction.- New Scanning Microscopy Techniques: Scanning Noise Microscopy — Scanning Tunneling Microscopy Assisted by Surface Plasmons.- An STM Study of the Oxygenation of Silicon.- Scanning Near Field Optical Microscopy.- Study of Epitaxial Growth by Combination of STM and LEED.- STM Studies of Adsorbates in the Monolayer Range: Ag/Ni(100) and O/Ni(100).- Molecular Imaging with the Scanning Tunneling Microscope.- Imaging of Magnetic Domains in Ferromagnets and Superconductors by Force and Tunneling Microscopy.- Acoustic Microscopy: Pictures to Ponder.- Real-Time Confocal Scanning Microscope — An Optical Instrument with a Better Depth Resolution.- On the Search for Last Frontiers —Scanning Tunneling Microscopy and Related Techniques (Abstract).- STM and AFM Extensions (Abstract).