Encounter with Chaos Self-Organized Hierarchical Complexity in Semiconductor Experiments
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inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
10.12.1992
Abbildungen
X, 289 p.
Verlag
Springer BerlinSeitenzahl
289
Maße (L/B/H)
23,5/15,5/1,7 cm
Gewicht
464 g
Auflage
Softcover reprint of the original 1st ed. 1992
Sprache
Englisch
ISBN
978-3-540-55845-3
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